产品简介

SH-VI变频抗干扰介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗和电容容量的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗和电容容量。

产品简介
SH-VI变频抗干扰介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。

产品特点
（1）具有正/反接线，内/外标准电容，内/外高压多种工作模式，一体化结构，可做各种常规介损试验，不需外接任何辅助设备。
（2）液晶显示，菜单操作，测试数据丰富，自动分辨电容、电感、电阻型试品，自带微型打印机可打印输出。
（3）具有外接标准电容器接口，可外接油杯做精密绝缘油介损试验，可外接固体材料测量电极做精密绝缘材料介损试验，也可外接高压标准电容器做高电压介损试验。
（4）自动识别50Hz / 60Hz系统电源，并支持发电机供电，即使频率波动大，也可正常测量。
（5）内置串联和并联两种介损测量模型，方便仪器检定。
（6）可存储255组测量数据。
（7）CVT自激法测量时，C1/C2可一次接线同时测出，自动补偿母线接地和标准电容器的分压影响，无须换线和外接任何配件。
（8）中文图文菜单，大屏幕背光LCD显示更清晰，电流电压实时监视。
（19）优化的电路设计，使正/反接线的准确度和稳定性*。
（10）自动识别外接高压试验电源频率40Hz～70Hz，支持工频电源、变频电源和串联谐振电源做大容量高电压介损试验。
（11）具有反接线低压屏蔽功能，在220kVCVT母线接地情况下，对C11可进行不拆线10kV反接线介损测量。
（12）带计算机接口。通过该接口，实现测量、数据处理和报表输出，也可实现仪器内部测量软件升级。可集成到综合高压试验车上。

SH-VI变频抗干扰介质损耗测试仪技术参数

介损和电容量测量

准确度：Cx:±（读数×1%+1pF）

            tgδ:±（读数×1%+0.00040）

抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确

电容量范围：内施高压： 3pF~60000pF/10kV 60pF~1.2μF/0.5kV

                     外施高压： 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV

分辨率：樶高0.001pF，4位有效数字

tgδ范围：不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。

试验电流范围：10μA~5A

内施高压：设定电压范围：0.5~10kV

大输出电流：200mA

升降压方式：连续平滑调节

电压精度：±(1.5%×读数+10V)

电压分辨率：1V

试验频率：45~65Hz整数频率

                 49/51Hz、45/55Hz自动双变频

频率精度：±0.01Hz

外施高压：正接线时大试验电流5A / 40~70Hz

                 反接线时大试验电流10kV / 5A / 40~70Hz

CVT自激法低压输出：输出电压3~50V，输出电流3~30A

测量时间：约30s，与测量方式有关