产品简介

HM5006抗干扰介质损耗测试仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。

产品简介
HM5006抗干扰介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗*力强， 测试时间短等优点;另外,本仪器针对电容式电压互感器(CVT)试验困难的特点,增设了外接法测试,外接标准电容器、调压器,使得测试非常简单可靠,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。
 

HM5006抗干扰介质损耗测试仪技术指标

输入： 220VAC 50Hz 5A 连续

输出： 0-12kV 连续可调，100mA连续。樶大可达200mA (15分钟开，15分钟关，樶高8次)

            通过使用调谐电路可使输出高达4A

测量范围：电压：250V—12kV，分辨率 10V;建议*小测量电压250V

电流：   0—5A，分辨率 1μA 可测2.5kV，10kV等效电流

电容：   1pf—1.1μf 樶大分辨率 0.01pf

功率因数： 0—90% 樶大分辨率 0.01%

功耗：    0—2kw

有效功率：  0—100KW 当等效于10kV，*大分辨率 0.1mW，测量值可等效2.5KV或10kV的值

测量精度：电压(RMS)：       ±(读数的1%+1位)

                 电流(RMS)：       ±(读数的1%+1位)

电容： ±(读数的0.5%+2pf)UST型;±(读数的0.5%+6pf)GST型

功率因素：±(读数的2%+0.05%)

功率因素：±(读数的2%+1mW)

工作原理
启动测量后高压设定值送到变频电源，变频电源用PID算法将输出缓速调整到设定值，测量电路将实测高压送到变频电源，微调低压，实现准确高压输出。根据正/反接线和内/外标准电容的设置，测量电路根据试验电流自动选择输入并切换量程，测量电路采用傅立叶变换滤掉干扰，分离出信号基波，对标准电流和试品电流进行矢量运算，幅值计算电容量，角差计算tgδ。反复进行多次测量，经过排序选择一个中间结果。测量结束，测量电路发出降压指令变频电源缓速降压到0。